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三浦典之教授が、2月3日に日本学士院にて挙行された授賞式にて、第22回 日本学術振興会賞を受賞しました。受賞理由は「近接電磁場を積極活用する革新的半導体コンピューティング技術の開拓」です。

https://www.jsps.go.jp/file/storage/j-jsps-prize/kettei/r7/22nd_JSPSprize_list_jp.pdf

https://www.jsps.go.jp/file/storage/j-jsps-prize/kettei/r7/22nd_JSPSprize_reason_jp.pdf

三浦典之教授が、第22回（令和7（2025）年度）日本学術振興会賞の受賞者に選ばれました。

https://www.jsps.go.jp/j-topics/2025/1216.html

2025年12月15日にセコム本社（東京都渋谷区）で開催された電子情報通信学会 ハードウェアセキュリティフォーラム 2025において、成瀬 厚太郎 君(D1)、岡田 明樹 君(M2)がポスター発表を行いました。

• 成瀬 厚太郎, 西邨 なぎさ, 佐々木 輝, 御堂 義博, 塩見 準, 田中 雄一, 栗林 稔, 三浦 典之, “100台規模の監視カメラ群におけるデバイス固有性を用いた計測セキュリティ技術の拡張性実証”
• 岡田 明樹, 三木 拓司, 高橋 亮蔵, 永田 真, 塩見 準, 御堂 義博, 上野 嶺, 三浦 典之, “AD変換器の統計的サイドチャネル情報漏洩評価”

また、成瀬君がハードウェアセキュリティ研究会若手優秀賞を受賞しました。同賞に対する詳細はこちらを参照。これは、HWS・VLD・ICD合同研究会(2025年3月)での発表に対しての受賞です。

• 2025年12月 電子情報通信学会 ハードウェアセキュリティ研究会 若手優秀賞（成瀬 厚太郎, 御堂 義博, 三浦 典之）, “デバイス固有性を利用した監視カメラ用計測セキュリティ技術の拡張性評価”

2025年12月1日〜3日に開催されたデザインガイア2025にて、石川貴大君（2024年度M2）らが電子情報通信学会 VLSI設計技術研究専門委員会 優秀技術報告賞を受賞しました。
また、塩見准教授と京都工芸繊維大学との共同研究による成果発表に対しても優秀技術報告賞を受賞しました。
いずれの受賞もHWS・VLD・ICD合同研究会(2025年3月)での発表に対する受賞です。

• 2025年12月 電子情報通信学会 VLSI設計技術研究専門委員会 優秀技術報告賞 (石川貴大, 御堂義博, 三浦典之, 新谷道広, 塩見準), “ハードウェアトロイ検出を可能にする細粒度電源ドメイン分割回路の低コスト化”
• 2025年12月 電子情報通信学会 VLSI設計技術研究専門委員会 優秀技術報告賞 (高谷彩乃, 中島隆一, 塩見準, 新谷道広), “低温環境下におけるトランジスタ特性を用いたハードウェアトロイの開発”

2025年11月11日～11月13日に千里ライフサイエンスセンター（大阪府豊中市）で開催された ナノテスティングシンポジウム(NANOTS)2025 において、御堂義博 特任准教授、村上慎治  君 (M2)、中道翔太 君(M1) が研究成果を発表しました。事務局運営にも協力しました。

• 御堂義博, “大規模言語モデルを用いたナノテスティング学術的知見の利活用”
• 中道翔太, 御堂義博, 淺野修一朗, 塩見準, 三浦典之, “SEM画像生成AI の半導体パターン寸法計測への応用”
• 村上慎治, 大家政洋, 岡本陽介, 中澤伸一, 丸山浩太郎, 山崎裕一郎, 御堂義博, 三浦典之, “半導体多層構造パターンのSEM画像に対する輪郭抽出アプローチの有効性評価”

2025年10月26日から29日に米国アトランタのGeorgia Tech Global Learning Centerで開催されたIEEE-EMBS International Conference on Biomedical and Health Informatics (BHI’25)において、大西 智也君(M2)が口頭発表を行いました。オープンレビューによる審査の結果をみると、今回投稿した一般会議録は全386件の申請のうち113件（採択率29.3%）が採択、さらに口頭発表は全523件（特集号への申請を含む）のうちわずか51件（9.2%）しかおらず、高い評価をいただくことができました。

T. Onishi, Y. Midoh, J. Shiomi, T. Yuba, N. Miura, “Markerless Laryngeal Motion Tracking During Swallowing Using an RGB-D Camera with 3D Head-and-Neck Alignment,” Proc. IEEE BHI, Oct. 2025. (Atlanta, USA)

2025年7月10日に、九州大学大学院工学研究院の麻生亮太郎准教授、村上恭和教授、佐野弘貴氏(博士前期課程)、九州大学超顕微解析研究センターの玉岡武泰助教(現:株式会社東レリサーチセンター)、大阪大学産業科学研究所の吉田秀人准教授、九州大学大学院総合理工学研究院の永長久寛教授、北條元准教授、大阪大学大学院情報科学研究科の御堂義博特任准教授(常勤)、株式会社日立製作所研究開発グループの谷垣俊明主管研究員らの共同研究成果がAdvanced Science (IF=14.1) に掲載されました。九州大学および大阪大学、JSTよりプレスリリースされています。

• Ryotaro Aso, Takehiro Tamaoka, Hideto Yoshida, Hajime Hojo, Hiroki Sano, Yoshihiro Midoh, Hisahiro Einaga, Toshiaki Tanigaki, Yasukazu Murakami, “Direct Visualization of Surface Structure and Charge States of Ceria-Supported Gold Catalysts Under Redox Conditions,” Advanced Science, e08554, Jul. 2025. DOI: 10.1002/advs.202508554

2025年6月9日から11日に福岡国際会議場にて開催された日本顕微鏡学会学術講演会において、中道 翔太(M1)が口頭発表を行いました。

中道翔太, 御堂義博, 淺野修一朗, 塩見 準, 三浦典之, “SEM画像生成AIを用いた半導体パターン寸法計測,” 第81回日本顕微鏡学会学術講演会, 1D_IMB-7_10, Jun. 2025. (福岡)

2025年5月1日～2日に米国カリフォルニア州シーサイドにて開催されたTau 2025において、冨永 孝太郎 君（M2）が研究成果を発表しました。

Kotaro Tominaga, Ryosuke Matsuo, Yoshihiro Midoh, Noriyuki Miura, Michihiro Shintani and Jun Shiomi, “Ternary logic operation of CMOS inverters under low-temperature and low-voltage conditions,” Tau2025, pp. 36-42, May 2025.



Tau2025の後に、冨永君と塩見准教授がテキサス大学ダラス校 (University of Texas at Dallas) を訪問し、同大学の Yiorgos Makris 教授、Benjamin Carrion Schaefer 准教授と技術ディスカッションを行いました。

2025年2月23日～2月27日にサンノゼで開催されたSPIE Advanced Lithography+Patterningにおいて、 大家政洋さん (招へい研究員)と淺野 修一朗(M2)君が研究成果を発表しました。

• Masahiro Oya, Yosuke Okamoto, Shinichi Nakazawa, Kotaro Maruyama, Yuichiro Yamazaki, Shinji Murakami, Yoshihiro Midoh, and Noriyuki Miura, “Advanced pattern contour extraction function for see-through BSE images of high voltage SEM”
• Shuichiro Asano, Yoshihiro Midoh, Jun Shiomi, and Noriyuki Miura, “A comparison of generative AI models for the top-down SEM image of line and space pattern”